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霍爾效應測試系統低溫型測量儀JH60D 產品概述： 本儀器系統由：電磁鐵、電磁鐵電源、高精度恒流源高精度電壓表、高斯計、霍爾效應樣品支架、標準樣品、系統軟件。為本儀器系統專門研制的 JH10效應儀將恒流源，六位半微伏表及霍爾測量復雜的切換繼電器——開關組裝成一體，大大減化了實驗的連線與操作。

霍爾效應測試儀 霍爾電源$n技術指標：$n* 磁 場： 間距 10mm 情況下 10700 高斯， 間距 20mm 情況下 7000 高斯。$n*樣品電流：50nA~50mA（小可調節電流為 0.1nA）$n*測量電壓：0.1uV~30V$n* 提供各類測試標準材料，各級別霍爾器件（靈敏度與精度不同）$n*小分辨率： 1GS$n*磁場范圍：0-±1T$n*配合高斯計或數采板可與計算機通訊

電磁鐵、電磁鐵電源、高精度恒流源高精度電壓表、高斯計、霍爾效應樣品支架、標準樣品、高低溫杜瓦，控溫儀，系統軟件。為本儀器系統專門研制的JH10 效應儀將恒流源，六位半微伏表及霍爾測量復雜的切換繼電器——開關組裝成一體，大大減化了實驗的連線與操作。JH10 可單獨做恒流源、微伏表使用。 霍爾效應實驗儀 材料測試系統

用于測量半導體材料的載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數等重要參數，而這些參數是了解半導體材料電學特性必須預先掌控的，因此霍爾效應測試系統是理解和研究半導體器件和半導體材料電學特性*的工具。 霍爾效應測試系統 高阻型測試儀器